Aplicaciones de los rayos X al estudio de la estructura de los materiales: difracción de Rayos X por monocristales y reflectometría en películas delgadas.

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Title:	Aplicaciones de los rayos X al estudio de la estructura de los materiales: difracción de Rayos X por monocristales y reflectometría en películas delgadas.
Authors:	Garraza, María Soledad
Keywords:	FÍSICA NUCLEAR;RADIACTIVIDAD;RAYOS X;PROPIEDAD FÍSICA;PELÍCULAS DELGADAS
Issue Date:	2018
Publisher:	Universidad Nacional de San Martín. Instituto de Tecnología Nuclear Dan Beninson
Abstract:	La idea directriz de este trabajo ha sido adquirir experiencia en algunas técnicas de Rayos X que puedan ser de potencial interés y eventual proyección para las futura actividades a desarrollarse en el Laboratorio de Haces de Neutrones.
Description:	Proyecto Final Integrador
URI:	https://ri.unsam.edu.ar/handle/123456789/1145
Rights:	info:eu-repo/semantics/openAccess
Appears in Collections:	Ingeniería Nuclear con Orientación en Aplicaciones